Metrolog

通用3D测量软件

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立即使用Metrolog进行质量检测

为您的3D测量设备等提供真正的性能加速器。

Metrolog X4架构不仅受益于当前的计算机和OS技术,从而显着提高了性能和计量软件的计算能力,而且还简化了您的日常测量工作流程。

一站式通用解决方案,可简化您的3D检测,无论使用哪种测量设备一站式通用解决方案,可简化您的3D检测,无论使用哪种测量设备
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兼容性连接:支持所有设备

  • 与所有便携式设备兼容
  • 超过100种设备接口
  • 关节臂,激光跟踪仪和P.O.D. 系统
  • 支持所有品牌
  • 多连接
  • 在测量设备之间即时切换

高性能:大数据集

不再有大量数据的延迟和瓶颈。 未来几年,无论是CAD文件还是来自光学传感器的测量点云,数据和处理量都会激增。

Metrolog X4 64位架构使用所有可用的内存和优化功能,始终处于极限状态。 无与伦比的性能和无与伦比的易用性。

该软件体系结构具有两个主要优点:

  • 导入和处理大容量的CAD文件。
  • 导入和分析高容量的点云而无丢失。
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增强的界面可为最终用户带来流畅的体验。

完全可定制的用户友好图形界面,可满足操作员的需求,机器类型和测量类型。

  • 新的手动探测向导。
  • 采集过程中自动查看方向。
  • 多个信息窗口(位置和结果)。
  • 随时可用的19种语言切换软件。

增强的分析:
一流的GD&T和报告

  • Metrolog X4具有新的几何和尺寸公差处理引擎,可在记录时间内处理最复杂的情况。
  • 简化了几何公差定义。
  • “专家”系统,确保正确的评估方法和结果。
  • 全面支持符合给定标准的公差评估。
  • 支持ANSI和ISO标准。
  • 由PTB和NIST组织认证和认可的解决方案。
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点云分析中的最高性能

  • Metrolog旨在处理和分析最大和最密集的点云。
  • Metrolog集成了高效光学测量功能所需的最新技术,可确保无论使用哪种设备,您都拥有最好的工具。
  • 使用CAD(色彩分布)进行云比较。
  • 元素提取和自动GD&T。
  • 直观的阶差和间隙。
  • 测量并补偿材料厚度。
  • 根据表面mm²估算零件质量(面积计算)。

与Metrolog进行一致的大规模检测

  • 与所有大型测量设备,激光跟踪仪和移动光学系统兼容。
  • 支持所有现有品牌和型号。
  • 多连接模式可以控制多个

设备同时参考所有测量结果(捆绑)进行测量。

  • 考虑设备的不确定性和比例因子(温度变化)。
  • 跟踪和管理原始数据。
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高效零件编程

  • 轻松创建完整的零件程序。
  • 提供在线或脱机示教。
  • 规划文件集成的完整过程。
  • 面向操作员的说明,功能强大车间执行。

同类最佳的报告编辑器

  • 强大的报告编辑器可实现完整,轻松的自定义。
  • 简单且用户友好的界面。
  • 创建适合您的客户要求的自己的报告模板。
  • 自定义任何类型的输出:助手,状态编辑器,从库直接导出等。
  • 导出具有多种文件格式,例如.XLS,.CSV,.PDF …
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高性能

能够增加文件大小(CAD文件,点云…),新的64位体系结构…

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点云准确性

本机3D检测软件为非接触式测量系统带来更高的精度

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高兼容性

与所有便携式设备,关节臂,激光跟踪仪和P.O.D.兼容 系统…

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最佳界面

完全可定制的图形用户界面,新的手动探测助手。

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增强分析

支持所有GD&T公差:ANSI和ISO,智能数据整形质量检测和制造…

对Metrolog感兴趣吗 ?

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作为Dassault Systemes的合作伙伴,我们提供了Catia V5中嵌入的Metrolog的整合版本。

第一个与全球认可的CAD软件完全兼容的离线检测解决方案。

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Metrolog与所有主要的计量设备品牌兼容。今天有110多个接口可用。

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借助业界最强大,最准确的3D控制软件,充分发挥点云检测的潜力。

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下载 Metrolog 手册

轻松检测:连接然后测量!

增值应用可最大程度地提高您的生产效率

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i-Viewer

免费的查看器应用程序可与客户和合作伙伴共享您的检测文件。

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i-Remote

移动应用程序使您可以自由地从计算机上进行测量。

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i-Supervision

将现场检测结果传递到车间的革命性方法。

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i-Holo

基于Microsoft HoloLens的增强现实检测解决方案。

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