通用3D测量软件
立即使用Metrolog进行质量检测
为您的3D测量设备等提供真正的性能加速器。
Metrolog X4架构不仅受益于当前的计算机和OS技术，从而显着提高了性能和计量软件的计算能力，而且还简化了您的日常测量工作流程。
兼容性连接：支持所有设备
- 与所有便携式设备兼容
- 超过120种设备接口
- 关节臂，激光跟踪仪和P.O.D. 系统
- 支持所有品牌
- 多连接
- 在测量设备之间即时切换
高性能：大数据集
不再有大量数据的延迟和瓶颈。 未来几年，无论是CAD文件还是来自光学传感器的测量点云，数据和处理量都会激增。
Metrolog X4 64位架构使用所有可用的内存和优化功能，始终处于极限状态。 无与伦比的性能和无与伦比的易用性。
该软件体系结构具有两个主要优点：
- 导入和处理大容量的CAD文件。
- 导入和分析高容量的点云而无丢失。
增强的界面可为最终用户带来流畅的体验。
完全可定制的用户友好图形界面，可满足操作员的需求，机器类型和测量类型。
- 新的手动探测向导。
- 采集过程中自动查看方向。
- 多个信息窗口（位置和结果）。
- 随时可用的19种语言切换软件。
增强的分析：
一流的GD＆T和报告
- Metrolog X4具有新的几何和尺寸公差处理引擎，可在记录时间内处理最复杂的情况。
- 简化了几何公差定义。
- “专家”系统，确保正确的评估方法和结果。
- 全面支持符合给定标准的公差评估。
- 支持ANSI和ISO标准。
- 由PTB和NIST组织认证和认可的解决方案。
点云分析中的最高性能
- Metrolog旨在处理和分析最大和最密集的点云。
- Metrolog集成了高效光学测量功能所需的最新技术，可确保无论使用哪种设备，您都拥有最好的工具。
- 使用CAD（色彩分布）进行云比较。
- 元素提取和自动GD＆T。
- 直观的阶差和间隙。
- 测量并补偿材料厚度。
- 根据表面mm²估算零件质量（面积计算）。
与Metrolog进行一致的大规模检测
- 与所有大型测量设备，激光跟踪仪和移动光学系统兼容。
- 支持所有现有品牌和型号。
- 多连接模式可以控制多个
设备同时参考所有测量结果（捆绑）进行测量。
- 考虑设备的不确定性和比例因子（温度变化）。
- 跟踪和管理原始数据。
高效零件编程
- 轻松创建完整的零件程序。
- 提供在线或脱机示教。
- 规划文件集成的完整过程。
- 面向操作员的说明，功能强大车间执行。
同类最佳的报告编辑器
- 强大的报告编辑器可实现完整，轻松的自定义。
- 简单且用户友好的界面。
- 创建适合您的客户要求的自己的报告模板。
- 自定义任何类型的输出：助手，状态编辑器，从库直接导出等。
- 导出具有多种文件格式，例如.XLS，.CSV，.PDF …
高性能
能够增加文件大小（CAD文件，点云…），新的64位体系结构…
点云准确性
本机3D检测软件为非接触式测量系统带来更高的精度
高兼容性
与所有便携式设备，关节臂，激光跟踪仪和P.O.D.兼容 系统…
最佳界面
完全可定制的图形用户界面，新的手动探测助手。
增强分析
支持所有GD＆T公差：ANSI和ISO，智能数据整形质量检测和制造…
对Metrolog感兴趣吗 ?
请联系Metrolog 工程师给您免费演示
作为Dassault Systemes的合作伙伴，我们提供了Catia V5中嵌入的Metrolog的整合版本。
第一个与全球认可的CAD软件完全兼容的离线检测解决方案。
Metrolog与所有主要的计量设备品牌兼容。今天有110多个接口可用。
借助业界最强大，最准确的3D控制软件，充分发挥点云检测的潜力。
下载 Metrolog 手册
轻松检测：连接然后测量！
增值应用可最大程度地提高您的生产效率
i-Viewer
免费的查看器应用程序可与客户和合作伙伴共享您的检测文件。
i-Remote
移动应用程序使您可以自由地从计算机上进行测量。
i-Supervision
将现场检测结果传递到车间的革命性方法。
i-Holo
基于Microsoft HoloLens的增强现实检测解决方案。
