Estimado cliente,
Nos complace anunciar el lanzamiento de X4 V23GA, ya disponible en el Extranet.
A medida que las piezas se vuelven más complejas y aumentan las exigencias de producción, seguimos comprometidos a simplificar la inspección sin sacrificar la precisión.
Cada nueva versión nos acerca a esa visión, mejorando la eficiencia de fabricación gracias a una plataforma de metrología 3D universal.
Descubra las nuevas funciones e innovaciones a continuación:
X4 ahora es compatible con el Leica ATS800
Diese Erweiterung bietet Ihnen eine weitere Hochleistungs-Messlösung innerhalb von X4. Basierend auf bewährter Technologie ist sie ideal für hochpräzise, großflächige Inspektionen in Branchen wie Luft- und Raumfahrt, Verteidigung und Energie.
Libere el rendimiento de su controlador Pantec
El controlador Pantec es una solución CMM universal diseñada para sistemas multisensor, que ofrece un alto rendimiento y resultados precisos.
Para ayudarle a aprovechar al máximo su potencial, hemos introducido dos mejoras: una mayor estabilidad del mármol durante los movimientos del cabezal y una mejor calibración de los palpadores.
Estas mejoras aumentan la precisión de sus mediciones y refuerzan la fiabilidad de los resultados.
Innovación continua en la planificación de trayectorias de inspección (IPP)
En Metrologic trabajamos hacia un futuro en el que la creación de trayectorias de inspección esté totalmente automatizada, sea cual sea la máquina o el sensor. Sin más ajustes manuales ni presión por reducir los tiempos de ciclo. Solo defina las entidades y deje que Silma X4 se encargue del resto con su funcionalidad IPP.
Esta versión supone un avance significativo: se han mejorado considerablemente los rendimientos para los escenarios con escáner robotizado, y se ha añadido compatibilidad con la generación automática de trayectorias CMM sobre planos multiparche.
Lesen Sie die vollständigen Release Notes für alle Details.
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