Ora è possibile utilizzare direttamente in X4 la tecnologia esclusiva del Leica Absolute Tracker ATS800. Oltre ai suoi metodi di acquisizione nativi (Cerchio, Disco, Superficie), è possibile applicare anche le strategie di acquisizione esistenti in X4 per ottenere esattamente i dati necessari all’ispezione.

Questa novità amplia le possibilità in X4 con un altro strumento di misura ad alte prestazioni. Basato su tecnologia comprovata, è ideale per ispezioni di alta precisione su larga scala nei settori aerospaziale, difesa ed energia.

Il controller Pantec è una soluzione CMM universale progettata per sistemi multi-sensore, che garantisce elevate prestazioni e risultati accurati.
Per aiutarvi a sfruttarlo al meglio, abbiamo introdotto due miglioramenti: una maggiore stabilità del piano di granito durante i movimenti della testa e una calibrazione della sonda più precisa.

Queste ottimizzazioni aumentano l’affidabilità e la precisione delle misure.

In Metrologic stiamo costruendo un futuro in cui la generazione dei percorsi di ispezione sarà completamente automatizzata, indipendentemente dalla macchina o dal sensore. Nessuna regolazione manuale, nessuna rincorsa ai tempi ciclo: definisci le entità e lascia che Silma X4 gestisca il resto con la funzione IPP.

Questa nuova versione segna un importante passo avanti: le prestazioni sono state notevolmente migliorate negli scenari con scanner robotico, e ora è supportata la generazione automatica delle traiettorie CMM su piani multi-patch.